本技術涉及制冷實驗，尤其涉及一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置。
背景技術：
1、tec半導體制冷元件可以提供上下表面20°溫差，對于實驗要求的溫度來說，可通過基臺的冷卻系統(tǒng)預先降溫，在通過tec半導體制冷元件傳遞的溫差實現(xiàn)制冷。
2、零下50度試驗臺，在沒有提供氣氛保護的環(huán)境下會結(jié)霜影響試驗進行，因此需要提供防結(jié)霜氣氛保護。但是現(xiàn)有的保護結(jié)構時疊放在試驗臺上的，會增加整體高度，易影響試驗的進行。
3、鑒于此，我們提出一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置。
技術實現(xiàn)思路
1、本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術的不足，適應現(xiàn)實需要，提供一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，以解決當前增加整體高度易影響試驗的進行的技術問題。
2、為了實現(xiàn)本實用新型的目的，本實用新型所采用的技術方案為：設計一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，包括試驗臺本體，還包括防結(jié)霜結(jié)構；
3、防結(jié)霜結(jié)構與所述試驗臺本體套接配合；
4、所述防結(jié)霜結(jié)構包括聚四氟乙烯底殼、鋁合金上殼、氮氣進管和廢氣出管；
5、聚四氟乙烯底殼和鋁合金上殼對接構成套件；
6、其中，所述聚四氟乙烯底殼和鋁合金上殼之間的空腔與所述試驗臺本體套接配合；
7、氮氣進管布置于鋁合金上殼一端；
8、廢氣出管布置于所述鋁合金上殼另一端。
9、優(yōu)選地，所述試驗臺本體底部設有凸起卡塊，所述聚四氟乙烯底殼一側(cè)開設有卡槽，所述凸起卡塊與所述卡槽卡接配合。
10、優(yōu)選地，所述鋁合金上殼兩端分別開設有氣腔，所述鋁合金上殼頂部內(nèi)對稱開設有兩個貫通氣孔，所述鋁合金上殼頂側(cè)中間開設有環(huán)形的氣槽；
11、其中，所述氣腔、貫通氣孔和氣槽依次連通；
12、其中，所述氮氣進管和所述廢氣出管分別插接于所述鋁合金上殼兩端的氣腔內(nèi)；
13、其中，所述氣槽環(huán)繞于所述鋁合金上殼頂側(cè)中間開設的試驗腔。
14、優(yōu)選地，所述氮氣進管和所述廢氣出管的插入端分別套接有密封膠圈a，所述密封膠圈a與所述氣腔壁抵接配合。
15、優(yōu)選地，所述鋁合金上殼內(nèi)底壁中間嵌接有密封膠圈b，所述密封膠圈b與所述試驗臺本體頂側(cè)抵接配合。
16、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果在于：
17、1.本實用新型通過設置聚四氟乙烯底殼、鋁合金上殼、氮氣進管和廢氣出管，具有通過聚四氟乙烯底殼和鋁合金上殼對接構成的套件套設在試驗臺本體上，不會過多增加整體高度的優(yōu)點，解決了增加整體高度易影響試驗的進行的問題。
18、2.本實用新型通過設置凸起卡塊和卡槽，具有底部貼合試驗臺本體，提供限位卡住，避免試驗臺本體晃動的優(yōu)點。
1.一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，包括試驗臺本體(1)，其特征在于，還包括：
2.如權利要求1所述的一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，其特征在于，所述試驗臺本體(1)底部設有凸起卡塊(101)，所述聚四氟乙烯底殼(201)一側(cè)開設有卡槽(2011)，所述凸起卡塊(101)與所述卡槽(2011)卡接配合。
3.如權利要求1所述的一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，其特征在于，所述鋁合金上殼(202)兩端分別開設有氣腔(205)，所述鋁合金上殼(202)頂部內(nèi)對稱開設有兩個貫通氣孔(206)，所述鋁合金上殼(202)頂側(cè)中間開設有環(huán)形的氣槽(208)；
4.如權利要求3所述的一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，其特征在于，所述氮氣進管(203)和所述廢氣出管(204)的插入端分別套接有密封膠圈a(207)，所述密封膠圈a(207)與所述氣腔(205)壁抵接配合。
5.如權利要求3所述的一種制冷實驗臺用防結(jié)霜氣氛裝置，其特征在于，所述鋁合金上殼(202)內(nèi)底壁中間嵌接有密封膠圈b(2010)，所述密封膠圈b(2010)與所述試驗臺本體(1)頂側(cè)抵接配合。