技術(shù)編號：42300927
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于芯片測試的，尤其涉及一種測試向量生成方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、芯片在ate(automatic?test?equipment，自動(dòng)測試設(shè)備)上做功能測試時(shí)需要有對應(yīng)的function?pattern（功能測試向量）。通常情況下的做法是由驗(yàn)證部門開發(fā)測試平臺(tái)（testbench）及測試用例后仿真得到波形文件（如value?change?dump文件，又稱vcd文件是一種標(biāo)準(zhǔn)波形文件），再將仿真生成的波形文件轉(zhuǎn)換成wgl文件（wgl：wave?generationlang...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。