一種采用x射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種采用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法，首先利用X射線衍射儀掃描鋼材試樣，獲得鋼材試樣的XRD圖譜，再利用XRD圖譜對馬氏體及奧氏體進(jìn)行修正并求得各晶面的衍射強(qiáng)度，最終測得鋼材試樣奧氏體的含量；本發(fā)明所設(shè)計(jì)的采用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法在試樣存在織構(gòu)的情況下，提高鋼中奧氏體含量測量準(zhǔn)確性。
【專利說明】一種采用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于X射線衍射(X-Ray Diffraction, XRD)試驗(yàn)領(lǐng)域,更具體地,本發(fā)明涉及一種利用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，鋼中奧氏體含量的測定往往采用直接對比法。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T8362-1987和YB/T5338-2006《鋼中殘余奧氏體定量測定X射線衍射儀法》規(guī)定:馬氏體選用(200)、(211)兩晶面的衍射線，奧氏體選用(200)、(220)、(311)三晶面衍射線，將所測量的五條衍射線進(jìn)行組合并分別計(jì)算衍射強(qiáng)度比值，代入指定計(jì)算公式即可得到奧氏體含量。但是，應(yīng)用此計(jì)算公式的前提條件是:馬氏體相、奧氏體相中各衍射線間的累積強(qiáng)度比值，必須符合下表要求:
[0003]表1國標(biāo)中規(guī)定的馬氏體相、奧氏體相中各衍射線間的累積強(qiáng)度比值
【權(quán)利要求】
1.一種采用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法，其特征在于，包括如下具體步驟: 步驟(1):利用X射線衍射儀掃描鋼材試樣，獲得鋼材試樣的XRD圖譜； 步驟(2):利用步驟(1)中XRD譜圖及如下公式計(jì)算馬氏體及奧氏體各晶面無擇優(yōu)取向時(shí)的相對衍射強(qiáng)度:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的采用X射線衍射技術(shù)測量鋼中奧氏體含量的方法，其特征在于，步驟(1)中X射線衍射儀的掃描速度小于等于1° /min。
【文檔編號】G01N23/20GK103808743SQ201310590061
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2014年1月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月16日
【發(fā)明者】楊英, 范益, 卞欣 申請人:南京鋼鐵股份有限公司