本發(fā)明涉及空間目標(biāo)檢測,具體提供一種面向暗弱目標(biāo)檢測的遞進(jìn)式主動學(xué)習(xí)弱監(jiān)督訓(xùn)練框架。、主動學(xué)習(xí)與弱監(jiān)督學(xué)習(xí)方法相結(jié)合,通過主動選擇待標(biāo)注樣本,在盡可能降低標(biāo)注成本的同時實現(xiàn)模型性能的最大提升。在空間目標(biāo)檢測領(lǐng)域,深度學(xué)習(xí)方法雖提升了檢測性能,但面臨四大瓶頸:實際觀測數(shù)據(jù)缺乏精確真實標(biāo)簽,模...