本發(fā)明涉及探針測試夾具，具體為一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具。
背景技術：
1、芯片探針測試夾具是一種?用于連接芯片引腳與測試設備的精密裝置?，通過探針與芯片引腳直接接觸，實現(xiàn)電氣性能檢測、信號傳輸及功能驗證，一般通過定位座、固定座等組件固定芯片，防止測試過程中位移或傾斜，利用探針或導電膠建立芯片與測試儀器的穩(wěn)定電氣連接。
2、目前，傳統(tǒng)探針測試夾具大多為固定式結構，單個探針測試夾具僅支持單一類型芯片的夾持測試，如平面引腳芯片，無法同時適配側面、斜面引腳的異形芯片，缺乏多維調節(jié)能力，使得在面對側面或斜面引腳的異形芯片時，需依賴人工手動調整角度或更換專用夾具，導致操作繁瑣、效率低下、成本高，且容易使探針接觸角度無法垂直接觸，導致信號阻抗增大或電流分布異常。
技術實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的目的在于提供一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，以解決上述背景技術中提出的技術問題。
2、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，包括底座，且底座的頂端安裝有探針測試組件；
3、所述底座與探針測試組件之間由下至上依次設置有支撐框、支撐臺和供電主板，且支撐臺與支撐框活動連接，所述支撐臺與底座之間設置有貫穿支撐框的調節(jié)機構，所述調節(jié)機構包括有與支撐框底端焊接的安裝框a、與支撐框及安裝框a通過軸承連接的支撐軸a和與支撐框通過軸承連接的支撐柱、支撐軸b和旋轉桿，且支撐柱遠離支撐框的一端與底座焊接連接，所述旋轉桿的外側活動連接有位移板，且位移板與支撐臺之間鉸接有對稱設置的聯(lián)動板a；
4、所述支撐臺的內部貫穿設置有與供電主板連接的夾持機構，所述夾持機構包括有與支撐臺底端焊接的安裝框b、與安裝框b滑動連接的齒板和與供電主板底端焊接的轉軸b，且轉軸b的表面滑動連接有斜齒輪，所述斜齒輪的一側嚙合連接有與一個所述齒板頂端焊接的斜齒條，所述支撐臺的頂端對稱設置有立板，且兩個所述立板之間活動連接有活動架，所述活動架靠近支撐臺的一端與夾板連接。
5、優(yōu)選的，所述支撐軸b與旋轉桿以及支撐柱與支撐框、底座皆垂直設置，所述支撐柱與支撐軸a、支撐軸b皆平行設置，且支撐柱和支撐軸b分別位于支撐軸a的兩側。
6、優(yōu)選的，所述支撐臺的前后兩端皆焊接有與支撐框構成轉動結構的銷軸一，所述支撐軸b與旋轉桿之間連接有錐齒輪組，所述旋轉桿的表面開設有螺旋槽，所述位移板的內表面設置有與螺旋槽構成滑動結構的導向塊，所述支撐框的內部對稱焊接有與位移板構成滑動結構的導向桿。
7、優(yōu)選的，所述安裝框a的前端安裝有電機，所述電機的輸出端通過聯(lián)軸器連接有與安裝框a通過軸承連接的蝸桿，所述蝸桿的一側嚙合連接有套設在支撐軸a表面的蝸輪。
8、優(yōu)選的，所述支撐軸a的表面滑動連接有動齒輪，所述動齒輪與支撐軸a表面的連接塊之間安裝有電動推桿，所述動齒輪的一側嚙合連接有套設在支撐柱表面的定齒輪a，所述支撐軸b的表面套設有定齒輪b。
9、優(yōu)選的，所述轉軸b遠離供電主板的一端與安裝框b通過阻尼軸承轉動連接，所述轉軸b的表面套設有圓盤，所述圓盤與斜齒輪之間連接有伸縮彈簧。
10、優(yōu)選的，所述供電主板的底端等角度設置有支撐件，所述支撐臺的頂端開設有與支撐件構成滑動結構的支撐槽。
11、優(yōu)選的，兩個所述齒板之間嚙合連接有齒盤，所述齒盤的內部貫穿設置有與安裝框b通過軸承連接的轉軸a，所述斜齒條底端的齒板與安裝框b之間安裝有多級伸縮桿。
12、優(yōu)選的，所述齒板與活動架之間鉸接有聯(lián)動板b，所述活動架的兩側皆焊接有與立板構成轉動結構的銷軸二。
13、優(yōu)選的，所述安裝框a的兩側皆設置有鎖止機構，所述鎖止機構包括有與安裝框a焊接的支撐架，一個所述支撐架的底端以及另一個所述支撐架的頂端皆設置有復位彈簧，所述復位彈簧遠離支撐架的一端與鎖止塊連接，且鎖止塊與支撐架之間連接有伸縮導向件。
14、與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是：
15、1.該多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，通過調節(jié)機構實現(xiàn)對芯片方向和傾斜角度的自適應調節(jié)，通過對芯片進行多向多角度自適應調節(jié)，使得該探針測試夾具能夠支持多種類型芯片的夾持測試?，減少夾具更換次數，降低設備成本與維護時間，且自動化調節(jié)流程縮短調試時間并保證調節(jié)精準度，此外動態(tài)角度調節(jié)能夠確保探針與引腳垂直接觸，減少信號損耗。
16、2.該多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，通過夾持機構實現(xiàn)對芯片的穩(wěn)定夾持，并可以在解除夾持時使芯片精準轉動90°，以便自動切換測試邊，顯著提升測試效率，并減少人為操作誤差。
17、3.該多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，在動齒輪與定齒輪b分離時，可以通過鎖止機構實現(xiàn)對定齒輪b的機械自鎖，同時可以解除對定齒輪a的鎖止，從而保證芯片傾斜角度調節(jié)后的穩(wěn)定性，在動齒輪與定齒輪a分離時，可以通過鎖止機構實現(xiàn)對定齒輪a的機械自鎖，同時可以解除對定齒輪b的鎖止，從而保證芯片方向調節(jié)后的穩(wěn)定性，且該過程皆無需人工手動操作，自動化程度較高。
1.一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，包括底座（1），且底座（1）的頂端安裝有探針測試組件（11）；其特征在于：
2.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述支撐軸b（211）與旋轉桿（213）以及支撐柱（209）與支撐框（8）、底座（1）皆垂直設置，所述支撐柱（209）與支撐軸a（205）、支撐軸b（211）皆平行設置，且支撐柱（209）和支撐軸b（211）分別位于支撐軸a（205）的兩側。
3.根據權利要求2所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述支撐臺（9）的前后兩端皆焊接有與支撐框（8）構成轉動結構的銷軸一，所述支撐軸b（211）與旋轉桿（213）之間連接有錐齒輪組（212），所述旋轉桿（213）的表面開設有螺旋槽（214），所述位移板（215）的內表面設置有與螺旋槽（214）構成滑動結構的導向塊（216），所述支撐框（8）的內部對稱焊接有與位移板（215）構成滑動結構的導向桿（5）。
4.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述安裝框a（201）的前端安裝有電機（202），所述電機（202）的輸出端通過聯(lián)軸器連接有與安裝框a（201）通過軸承連接的蝸桿（203），所述蝸桿（203）的一側嚙合連接有套設在支撐軸a（205）表面的蝸輪（204）。
5.根據權利要求4所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述支撐軸a（205）的表面滑動連接有動齒輪（207），所述動齒輪（207）與支撐軸a（205）表面的連接塊之間安裝有電動推桿（206），所述動齒輪（207）的一側嚙合連接有套設在支撐柱（209）表面的定齒輪a（208），所述支撐軸b（211）的表面套設有定齒輪b（210）。
6.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述轉軸b（414）遠離供電主板（10）的一端與安裝框b（401）通過阻尼軸承轉動連接，所述轉軸b（414）的表面套設有圓盤（413），所述圓盤（413）與斜齒輪（411）之間連接有伸縮彈簧（412）。
7.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述供電主板（10）的底端等角度設置有支撐件（7），所述支撐臺（9）的頂端開設有與支撐件（7）構成滑動結構的支撐槽（6）。
8.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：兩個所述齒板（404）之間嚙合連接有齒盤（403），所述齒盤（403）的內部貫穿設置有與安裝框b（401）通過軸承連接的轉軸a（402），所述斜齒條（410）底端的齒板（404）與安裝框b（401）之間安裝有多級伸縮桿（405）。
9.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述齒板（404）與活動架（408）之間鉸接有聯(lián)動板b（406），所述活動架（408）的兩側皆焊接有與立板（407）構成轉動結構的銷軸二。
10.根據權利要求1所述的一種多向自適應調節(jié)的芯片探針測試夾具，其特征在于：所述安裝框a（201）的兩側皆設置有鎖止機構（3），所述鎖止機構（3）包括有與安裝框a（201）焊接的支撐架（301），一個所述支撐架（301）的底端以及另一個所述支撐架（301）的頂端皆設置有復位彈簧（302），所述復位彈簧（302）遠離支撐架（301）的一端與鎖止塊（303）連接，且鎖止塊（303）與支撐架（301）之間連接有伸縮導向件（304）。